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Photron在線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI
更新時間:2025-03-10
產品型號:
瀏覽量:871
Photron離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI
更新時間:2025-03-10
產品型號:
瀏覽量:841
光偏振態、雙折射(RO、Rth)和穆勒矩陣的光譜測量 ?測量波長:400 至800 nm,分辨率:2 nm ?偏振態(斯托克斯譜)測量 ?雙折射(高達100,000 m)、Rth 分析 ?使用穆勒矩陣評估偏振特性 ?高度可定制,適用于反射率測量等。
更新時間:2025-09-16
產品型號:
瀏覽量:150
VR-Pancake 鏡片光軸相對角度測量儀主要規格$n視野范圍:至大φ80mm$n像素:至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)$n測量波長:466nm,543nm,650nm(可定制)
更新時間:2025-03-10
產品型號:Photonic Lattice
瀏覽量:736
VR-Pancake 鏡片內應力相位差測量儀主要規格$n視野范圍:至大φ80mm$n像素:至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)$n測量波長:466nm,543nm,650nm(可定制)
更新時間:2025-03-10
產品型號:Photonic Lattice
瀏覽量:563
Photron在線/離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI
更新時間:2025-03-10
產品型號:
瀏覽量:417