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產(chǎn)品簡介
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光譜偏振/雙折射/穆勒陣列測量設(shè)備
光譜偏振儀Sci-Ral
光偏振態(tài)、雙折射（RO、Rth）和穆勒矩陣的光譜測量
?測量波長：400 至800 nm，分辨率：2 nm
?偏振態(tài)（斯托克斯譜）測量
?雙折射（高達(dá)100,000 m）、Rth 分析
?使用穆勒矩陣評估偏振特性
?高度可定制，適用于反射率測量等。
雙折射測量
?該工具可測量整個可見光范圍內(nèi)光 學(xué)薄膜和波片的延遲和取向，從而實 現(xiàn)延遲波長色散的實際測量和評估。
?它支持高達(dá)100,000 nm 的高分辨 率相位差分析以及手動Rth 分析。
穆勒矩陣
穆勒矩陣測量可用于分別分析所有偏 振特性（線性二向色性、圓二向色性、 雙折射、旋光性和消偏振），從而能夠評估材料特性，例如相位差膜中的旋光性以及聚合物材料和納米顆粒所 表現(xiàn)出的線性二向色性。穆勒矩陣還 可用于模擬透射光和反射光。
偏振（斯托克斯光譜）測量
這是Sci-Ral的基本功能，用于測量光學(xué)元件等的透射/反射光的偏振狀態(tài)。 Sci-Ral可以由用戶自由設(shè)置，因此可以用于各種偏振測量。
通過測量透過圓偏光膜的光強(qiáng)，您可以輕松評估其特性：
- 識別圓偏光的旋轉(zhuǎn)方向
- 實現(xiàn)圓偏光時的波長- 圓偏光片發(fā)揮其功能的波長范圍
除了光學(xué)元件之外，還可以測量液晶投影儀等光學(xué)系統(tǒng)發(fā)出的光的偏振，以及偏振熒光等發(fā)光。
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