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更新時間：2025-09-15
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深圳山河精測閃耀第26屆中國國際光電博覽會，多款創新產品重磅亮相
深圳，2024年9月——第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）在深圳會展中心隆重開幕。深圳山河精測攜多款光學檢測設備盛裝出席，集中展示了其在VR/AR、精密光學測量等領域的最新研發成果和技術實力。
本次展會上，深圳山河精測重點推出了四款核心產品，吸引了眾多行業專家、客戶及合作伙伴的駐足關注與深入交流。眾多專業觀眾駐足交流，更有多家客戶攜帶樣品前來實測驗證，展現了行業對檢測設備的強烈需求。
VR-Pancake鏡片光軸相對角度測量儀/相位差測量儀是針對新一代VR Pancake光學模組量產而打造的專業檢測方案。這款設備能夠高效、精準地測量鏡片的關鍵光學參數，如：圓偏振度（橢圓率）測量、RGB三原色測量、評估相位差分布、測量薄膜層貼合后的相對角度、測量QWP和偏振片的相對軸方向。解決其在生產過程中的核心痛點，為提升VR頭顯的成像質量與用戶體驗提供了可靠的計量保障。
3D超景深顯微鏡則展現了在微觀形貌測量領域的深厚積累。該產品具備超大景深和真三維測量能力，可廣泛應用于半導體、材料科學、精密制造等領域，滿足客戶對復雜表面高精度測量的需求。
尤為引人注目的是，深圳山河精測此次帶來了自主設計的AR雙目虛像檢測系統。該系統可對AR眼鏡、車載HUD等產品的虛像質量，如：1視場角測量（FOV測量）、2.亮度測量（Brightness）、3.SFR測量、4.MTF測量、5.FoFo對比度測量（FoFo Contrast）、6.ANSI對比度測量（ANSI Contrast)、7.TV畸變測量（TV Distortion）、8.亮度均勻性測量（Uniformity）、9.雙目合像誤差測量（Binocular Fusion accuracy)、10.左右顯示亮度差異測量（brightness diff)。一致性與舒適度等進行全面客觀的評估，是推動AR產品性能升級的重要工具。
此外，深圳山河精測在國內展出了其先進的光譜偏振/雙折射/穆勒陣列測量設備，可對材料的偏振特性、雙折射效應等進行納米級精度的快速、全面測量，對于液晶面板、光學薄膜、應力玻璃等材料的研發與質量控制具有革命性意義。光偏振態、雙折射（RO、Rth）和穆勒矩陣的光譜測量、雙折射測量、穆勒矩陣：穆勒矩陣測量可用于分別分析所有偏 振特性（線性二向色性、圓二向色性、 雙折射、旋光性和消偏振），從而能 夠評估材料特性，例如相位差膜中的 旋光性以及聚合物材料和納米顆粒所 表現出的線性二向色性。穆勒矩陣還 可用于模擬透射光和反射光
中國國際光電博覽會享有“全球光電行業風向標”的美譽。深圳山河精測通過此次參展，不僅鞏固了與現有客戶的合作關系，更與眾多海內外新客戶建立了聯系，進一步提升了品牌在行業內市場的影響力。
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